Об одной обратной задаче количественного рентгеноспектрального микроанализа

Авторы

  • Д.В. Зотьев
  • А.Г. Ягола
  • М.Н. Филиппов

Ключевые слова:

обратные задачи
уравнения Фредгольма первого рода
итерационные алгоритмы
математическое моделирование
рентгеноспектральный микроанализ
конечно-разностные аппроксимации

Аннотация

В работе рассмотрен метод бестрассерного экспериментального определения функции генерации характеристического рентгеновского излучения по глубине, используемой для расчета концентраций компонентов в рентгеноспектральном микроанализе. Этот метод приводит к решению обратной задачи для уравнения Фредгольма 1-го рода. Предложен алгоритм решения соответствующей обратной задачи, использующий априорную информацию и основанный на физических ограничениях на искомую функцию.

Новые вычислительные технологии

Загрузки

Опубликован

2003-01-21

Выпуск

Том 4 (2003): Выпуск 1.

Раздел

Раздел 1. Вычислительные методы и приложения

Авторы

Д.В. Зотьев

Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова,
физический факультет
Ленинские горы, 119234, Москва

А.Г. Ягола

Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова,
физический факультет
Ленинские горы, 119234, Москва

М.Н. Филиппов

Институт общей и неорганической химии имени Н. С. Курнакова РАН (ИОНХ РАН)
Ленинский просп., 31, 119991, Москва

Библиографические ссылки

  1. Рид С. Электронно-зондовый микроанализ. М.: Мир, 1979.
  2. Количественный электронно-зондовый микроанализ / Под ред. В. Скотта и Г. Лава. М.: Мир, 1986.
  3. Вrown J.D. zp(zr z)-equations for quantitative analysis / Electron Probe Quantitation. Ed. by K.F.J. Heinric and D.E. Newbury. New York: Plenum Pub. Corp., 1991. 77-82.
  4. Packwood R.A A comprehensive theory of electron probe microanalysis / Electron Probe Quantitation. Ed. by K.F.J. Heinric and D.E. Newbury. New York: Plenum Pub. Corp., 1991. 83-104.
  5. Brown J.D. The sandwich sample technique applied to quantitative microprobe analysis / Electron Probe Microanalysis. Ed. by J. Tousimis and L. Marton. New York: Plenum Pub. Corp., 1969. 45-71.
  6. Куприянова Т.А. Систематические погрешности рентгеноспектрального микроанализа, обусловленные локальным зарядом // Рентгеновская и электронная спектроскопия. Сб. статей. Черноголовка, 1985. 5-29.
  7. Cazaux J. Electron probe microanalysis of insulating materials: quantification problems and some possible solutions // X-ray Spectrum. 1996. 25, N 6. 265-280.
  8. Jbara O., Porton B, Mouz D., Cazaux J. Electron probe microanalysis of insulating oxides: Monte-Carlo simulations // X-ray Spectrum. 1997. 26, N 5. 291-302.
  9. Kotera M., Suga H. A simulation of keV electron scattering in a charged-up specimen // J. Appl. Phys. 1988. 63, N 2. 261-268.
  10. Тихонов А.Н., Гончарский А.В., Степанов В.В., Ягола А.Г. Численные методы решения некорректных задач. М.: Наука, 1990.
  11. Пшеничный Б.Н., Данилин Ю.М. Численные методы в экстремальных задачах. М.: Наука, 1975.