Новый программный комплекс для обработки дифрактограмм с радиальной симметрией

Авторы

  • И.В. Кочиков
  • Д.М. Ковтун
  • Ю.И. Тарасов

Ключевые слова:

дифрактограммы
визуализация
обработка изображений
структурный анализ
электронография
программные комплексы

Аннотация

Описан новый программный комплекс для первичной обработки дифрактограмм, обладающих радиальной симметрией. Программное обеспечение предоставляет расширенные возможности обработки, дружественный интерфейс пользователя и возможности визуализации каждой стадии предварительной обработки изображений. Программные средства позволяют провести весь процесс извлечения информации, который начинается с предварительной обработки цифрового изображения дифрактограммы и заканчивается формированием набора данных, непосредственно используемых в структурном анализе. Программный комплекс прошел многочисленные испытания при решении задач определения структуры молекул и используется в экспериментальных исследованиях в лаборатории электронографии химического факультета МГУ. Работа поддержана грантом РФФИ N 05-03-33034.

Новые вычислительные технологии

Загрузки

Опубликован

2008-10-02

Выпуск

Том 9 (2008): Выпуск 1.

Раздел

Раздел 2. Программирование

Авторы

И.В. Кочиков


Д.М. Ковтун


Ю.И. Тарасов


Библиографические ссылки

  1. Paul D.W., Ewbank J.D., Benston O.J., Schдfer L. Processor Controlled Multichannel Microdensitometry for Gas Electron Diffraction Patterns // Appl. Spectrosc. 1983. T.37. 127-130.
  2. Shindo D., Hiraga K., Oikawa T., Mori N. Quantification of electron diffraction with imaging plate // J. Electron Microsc. 1990. T.39, N 6. 449-453.
  3. Iijima T., Suzuki W., Yano Y.F. Use of Imaging plates in gas phase electron diffraction // Jpn. J. Appl. Phys. 1998. T.37, N 9A. 5064-5065.
  4. Fukushima I., Shibahara H., and Ogura N. Quantitative measurements of optical diffractogram using imaging plate // J. Electron Microsc. 1999. T.48 N 3. 253-255.
  5. Gundersen S., Samdal S., Strand T.G., Volden H.V. Benzene; high level quantum chemical calculations, gas electron diffraction pattern recorded on Fuji imaging plates and a method to explore systematic discrepancies which was used to determine an improved sector correction // J. Mol. Struct. 2007. T.832, N 1-3, 164-171.
  6. Gundersen S., Strand T.G. A commercial scanner applied as a microdensitometer for gas electron diffraction photographic plates // J. Appl. Cryst. 1996. T.29. 638-645.
  7. Zakharov A.V., Girichev G.V. Photometry and preprocessing experimental data in electron diffraction // Electronic Research Journal «Issledovano v Rossii» (http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2007/078.pdf, in Russian).
  8. Kochikov I.V., Tarasov Yu.I., Ivanov A.A. On determination of the response characteristics of detectors used in gas electron diffraction // J. Struct. Chem. 2007. T.48, N 3. 558-563 (in Russian ed., 598-603).
  9. Vishnevsky Yu.I. The initial processing of the gas electron diffraction data: An improved method for obtaining intensity curves from diffraction patterns // J. Mol. Struct. 2007. T.833. 30-41.
  10. Tarasov Yu.I., Kochikov I.V., Vogt N., Stepanova A.V., Kovtun D.M., Ivanov A.A., Rykov A.N., Deyanov R.Z., Novosadov B.K., Vogt J. Electron diffraction and quantum chemical study of the structure and internal rotation in nitroethane // J. Mol. Struct. 2008. T.872. 150-165.
  11. Tarasov Yu.I., Kochikov I.V., Kovtun D. M. Modeling of scattering on the residual gas in an electron diffraction experiment // J. Struct. Chem. 2007. T.48, N 3. 564-568 (in Russian ed., 604-608).