Стабилизация вычислительных алгоритмов определения свойств тонкопленочных оптических покрытий

Авторы

  • А.В. Тихонравов
  • М.К. Трубецков

Ключевые слова:

многослойные покрытия
разработка тонкопленочных оптических покрытий
вычислительное производство
тонкие пленки
стабилизация Key words multilayer coatings
coating design and characterization
computation manufacturing
thin films
stabilization

Аннотация

Разработка устойчивых вычислительных алгоритмов для определения свойств тонкопленочных оптических покрытий играет ключевую роль для успешного их применения во многих передовых областях технологии. Настоящая статья представляет общую идею, позволяющую разрабатывать эффективные с вычислительной точки зрения и устойчивые алгоритмы определения свойств покрытий для практически всех современных производственных процессов, используемых для изготовления оптических покрытий. Эффективность одного из таких алгоритмов демонстрируется с использованием новой исследовательской методологии, названной вычислительным производством.

Новые вычислительные технологии

Загрузки

Опубликован

2005-04-25

Выпуск

Том 6 (2005): Выпуск 1.

Раздел

Раздел 1. Вычислительные методы и приложения

Авторы

А.В. Тихонравов

Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова,
Научно-исследовательский вычислительный центр
Ленинские горы, 119991, Москва

М.К. Трубецков

Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова,
Научно-исследовательский вычислительный центр
Ленинские горы, 119991, Москва

Библиографические ссылки

  1. Kaiser N., Pulker H.K. Some fundamentals of optical thin film growth // Optical interference coatings / edited by N. Kaiser and H.K. Pulker. Berlin: Springer-Verlag, 2003. 59-80.
  2. Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K., DeBell G. Application of the needle optimization technique to the design of optical coatings // Appl. Opt. 1996. 35. 5493-5508.
  3. Sullivan B.T., Dobrowolski J.A. Implementation of a numerical needle method for thin-film design // Appl. Opt. 1996. 35. 5484-5492.
  4. Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K., Amotchkina T.V., Kokarev M.A. Key role of the coating total optical thickness in solving design // SPIE Proceedings. 2003. 5250. 312-321.
  5. Tikhonravov A.V. Design of optical coatings // Optical interference coatings / edited by N. Kaiser and H.K. Pulker. Berlin: Springer-Verlag, 2003. 81-104.
  6. Macleod H.A. Thin film optical filters. New York: McGraw-Hill, 1986.
  7. Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K. Computational manufacturing as a bridge between design and production // Submitted to Appl. Opt. 2005.
  8. Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K. Automated design and sensitivity analysis of wavelength-division multiplexing filters // Appl. Opt. 2002. 41. 3176-3182.
  9. Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K., Thelen A., DeBell G. Thin film telecommunication filters: automated design and pre-production analysis of WDM filters // Proceedings of 2002 IEEE/LEOS Workshop on Fibre and Optical Passive Components. Piscataway, NJ: IEEE, 2002. 202-207.
  10. Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K. OptiLayer thin film software // http://www.optilayer.com
  11. Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K. On-line characterization and reoptimization of optical coatings // SPIE Proceedings. 2003. 5250. 406-413.
  12. Furman Sh., Tikhonravov A.V. Basics of optics of multilayer systems // http://www.optilayer.com
  13. Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K. OptiReOpt software // http://www.optilayer.com