Метод граничных элементов для вычисления 2D емкостей в задачах экстракции
Авторы
-
В. В. Сазонов
-
М. М. Хапаев
Ключевые слова:
экстракция
матрица емкости
метод граничных элементов
Аннотация
В работе рассматриваются двумерные задачи вычисления электростатической матрицы емкости, возникающие при математическом моделировании микроэлектронных структур с помощью эквивалентных схем с сосредоточенными параметрами на этапе физической верификации (задача экстракции). Такие задачи имеют ряд особенностей, к которым относится сложная структура диэлектриков и проводников, а также необходимость корректной генерации данных для массовых вычислений. Для численного решения применяется метод граничных элементов, использующий представление решения в виде потенциала простого слоя. Рассматриваются две современные реализации этого известного подхода, основанные на простом методе Галеркина и нестандартном методе коллокации, дополненные априорно генерируемой адаптированной вычислительной сеткой. Проводится сравнение сходимости, точности и быстродействия этих алгоритмов. Метод Галеркина точнее для систем уравнений с матрицей умеренной размерности, тогда как коллокационная процедура быстрее в случае матриц большой размерности. Оба алгоритма достаточно эффективны и могут быть использованы как составная часть вычислительных методов экстракции. Обсуждаются дополнительные задачи, связанные с вычислением матрицы емкости, в том числе моделирование плавающих проводников и вычисление производных емкостей по геометрическим и другим параметрам.
Раздел
Методы и алгоритмы вычислительной математики и их приложения
Библиографические ссылки
- L. Lavagno, I. L. Markov, G. Martin, and L. K. Scheffer (eds.), Electronic Design Automation for IC Implementation, Circuit Design, and Process Technology (2nd ed.)(CRC Press, Boca Raton, 2016).
doi 10.1201/9781315215112
- Yangyuan Wang, Min-Hwa Chi, Jesse Jen-Chung Lou, and Chun-Zhang Chen (eds.), Handbook of Integrated Circuit Industry(Springer Nature, Singapore, 2024).
doi 10.1007/978-981-99-2836-1
- R. J. Baker (ed.), CMOS. Circuit Design, Layout, and Simulation (2nd ed.)(IEEE Press, 2005).
- W. H. Kao, Chi-Yuan Lo, M. Basel, and R. Singh, “Parasitic extraction: current state of the art and future trends,” Proceedings of the IEEE 89 (5), 729–739 (2001).
doi 10.1109/5.929651
- M. Bachtold, M. Spasojevic, C. Lage, and P. B. Ljung, “A system for full-chip and critical net parasitic extraction for ULSI interconnects using a fast 3-D field solver,” IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 19 (3), 325–338 (2000).
doi 10.1109/43.833201
- D. Sitaram, Yu Zheng, and K. L. Shepard, “Full-Chip, Three-Dimensional Shapes-Based RLC Extraction,” IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 23 (5), 711–727 (2004).
doi 10.1109/TCAD.2004.826545
- W. Yu and X. Wang, Advanced Field-Solver Techniques for RC Extraction of Integrated Circuits(Springer Press, Tsinghua University Press, 2014).
doi 10.1007/978-3-642-54298-5
- Jidan-Ming Jin, The Finite Element Method in Electromagnetics, 3rd ed.(Wiley-IEEE Press, 2014).
- D. Ren, X. Xu, H. Qu, and Z. Ren, “Two-dimensional parasitic capacitance extraction for integrated circuit with dual discrete geometric methods,” Journal of Semiconductors 36 (4), Articale Number 045008 (2015).
doi 10.1088/1674-4926/36/4/045008
- M. Costabel, “Principles of boundary element methods,” Computer Physics Reports 6 (1–6), 243–274 (1987).
doi 10.1016/0167-7977(87)90014-1
- J. Gwinner and E. P. Stephan, Advanced Boundary Element Methods: Treatment of Boundary Value, Transmission and Contact Problems(Springer, Cham, 2018).
doi 10.1007/978-3-319-92001-6
- K. Zhai and W. Yu, “The 2-D boundary element techniques for capacitance extraction of nanometer VLSI interconnects,” International Journal of Numerical Modelling: Electronic Networks, Devices and Fields 27 (4), 656–668 (2014).
doi 10.1002 jnm.1934.
- A. N. Tikhonov and A. A. Samarskii, Equations of Mathematical Physics(Courier Corporation, USA, 2013).
- Eigen: A C++ template library for linear algebra.
https://libeigen.gitlab.io Cited May 27, 2026.
- M. M. Khapaev and M. Yu. Kupriyanov, “Calculation of the Inductance of Normal Conductors and Superconductor,” Differential Equations 58 (8), 1142–1151 (2022).
doi 10.1134/S0012266122080146
- N. N. Kalitkin, A. B. Alshin, E.A. Alshina, and B. V. Rogov, Computations on Quasi-Uniform Grids(PhysMathLit, Moscow, 2005). [in Russian].
- Y. Yan and I. H. Sloan, “Mesh grading for integral equations of the first kind with logarithmic kernel,” SIAM J. Numer. Anal. 26 (3), 574–587 (1989).
doi 10.1137/0726034 rlitemrfa: rulit: VB1 J. van Bladel, Singular Electromagnetic Fields and Sources. IEEE Press series on electromagnetic wave theory(IEEE Press, 1991).
- J. van Bladel, Electromagnetic Fields, IEEE Press Series on Electromagnetic Wave Theory, 2nd ed.(John Wiley & Sons, Hoboken, NJ, 2007).
- M. B. Bazdar, A. R. Djordjevic, R. F. Harrington, and T. K. Sarkar, “Evaluation of Quasi-Static Matrix Parameters for Multiconductor Transmission Lines Using Galerkin’s Method,” IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 42 (7), 1223–1228 (1994).
doi 10.1109/22.299760
- M. M. Khapaev (Jr.), “A boundary-element method for problems with corners and mixed boundary-conditions,” Differ. Uravn. 1991. 27 (7), 1263–1267.[Differ. Equ. 27 (7), 895–898 (1991)].
- sky130_cds/PEX/sky130.ict at main · stineje/sky130_cds · GitHub.
https://github.com/stineje/sky130_cds/blob/main/PEX/sky130.ict, Cited May 27, 2026.
- cirkopt/liberate/models/ictfile at main · tomdriley/cirkopt · GitHub.
https://github.com/tomdriley/cirkopt/blob/main/liberate/models/ictfile, Cited May 27, 2026.
- I. Smolić and B. Klajn, “Capacitance Matrix Revisited,” Progress In Electromagnetics Research B 92, 1–18 (2021).
doi 10.2528/PIERB21011501
- A. Y. Boiko, A. E. Bezrukov, A. S. Rusakov, D. F. Tkachev, and M. M. Khapaev, “New algorithm for calculation of 2D capacitances in extraction,” in Problems of Perspective Microelectronic Systems Development. Scientific Proceedings, vol. 1(IPPM RAN, Moscow, 2006), pp. 76–80. [in Russian].
- J. Ureel and D. De Zutter, “Shape sensitivities of capacitances of planar conducting surfaces using the method of moments,” IEEE Trans. Microwave Theory and Techn. 44 (2), 198–207 (1996).
doi 10.1109/22.481568
- J. Vlach and K. Singhal, Computer methods for circuit analysis and design(VNR, NY, 1983; Radio i svyaz, Moscow, 1988).
- N. K. Nikolova, J. W. Bandler, and M. H. Bakr, “Adjoint Techniques for Sensitivity Analysis in High-Frequency Structure CAD,” IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 52 (1), 403–419 (2004).
doi 10.1109/TMTT.2003.820905
- T. El-Moselhy, I. M. Elfadel, and D. Widiger, “Efficient algorithm for the computation of on-chip capacitance sensitivities with respect to a large set of parameters,” in Proceedings of the 45th annual Design Automation Conference (DAC’08), Anaheim, CA, USA, June 8–13, 2008(IEEE Press, 2008), pp. 906–911.
doi 10.1145/1391469.1391699
- Z. Gao, D. Ren, S. Yan, et al., “Computation of sensitivities of IC interconnect parasitic capacitances to the process variation with dual discrete geometric methods,” J. Semicond. 37 (8), Article Number 085003 (2016).
doi 10.1088/1674-4926/37/8/085003
- LCR2D.
http://vmbak.cs.msu.ru/sotr/vmhap/lcr2d/lcr2d.html Cited May 27, 2026.
- LCR2D: 2D field solver for calculation of inductances, capacitances and resistances.
http://vmbak.cs.msu.ru/sotr/vmhap/lcr2d/lcr_man.pdf Cited May 27, 2026.
- Fast Field Solvers FasterCap.
https://www.fastfieldsolvers.com/fastercap.htm Cited May 27, 2026.