Корныхин, Е.В. «Генерация тестовых данных для системного функционального тестирования FIFO-кэш-памяти микропроцессоров». Вычислительные методы и программирование 10, no. 20 (апрель 27, 2009): 107–116. просмотрено май 1, 2024. https://num-meth.ru/index.php/journal/article/view/365.