Григорьев, Ф., В. Сулимов, и А. Тихонравов. «Расчет поверхностной шероховатости атомистических кластеров тонких пленок с характерным размером десятки нанометров». Вычислительные методы и программирование, т. 17, вып. 50, октябрь 2016 г., сс. 455-9, doi:10.26089/NumMet.v17r442.