Корныхин, Е. «Генерация тестовых данных для системного функционального тестирования FIFO-кэш-памяти микропроцессоров». Вычислительные методы и программирование, т. 10, вып. 20, апрель 2009 г., сс. 107-16, https://num-meth.ru/index.php/journal/article/view/365.