[1]
Ф. Григорьев, В. Сулимов, и А. Тихонравов, «Расчет поверхностной шероховатости атомистических кластеров тонких пленок с характерным размером десятки нанометров», Num. Meth. Prog., т. 17, вып. 50, сс. 455–459, окт. 2016.