ГРИГОРЬЕВ, Ф.; СУЛИМОВ, В.; ТИХОНРАВОВ, А. Расчет поверхностной шероховатости атомистических кластеров тонких пленок с характерным размером десятки нанометров. Вычислительные методы и программирование, [S. l.], v. 17, n. 50, p. 455–459, 2016. DOI: 10.26089/NumMet.v17r442. Disponível em: https://num-meth.ru/index.php/journal/article/view/905. Acesso em: 29 апр. 2024.