Григорьев, Ф., Сулимов, В., & Тихонравов, А. (2016). Расчет поверхностной шероховатости атомистических кластеров тонких пленок с характерным размером десятки нанометров. Вычислительные методы и программирование, 17(50), 455–459. https://doi.org/10.26089/NumMet.v17r442