Григорьев, Ф., Сулимов, В. и Тихонравов, А. 2016. Расчет поверхностной шероховатости атомистических кластеров тонких пленок с характерным размером десятки нанометров. Вычислительные методы и программирование. 17, 50 (окт. 2016), 455–459. DOI:https://doi.org/10.26089/NumMet.v17r442.